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循环加载下金属薄膜的裂纹萌生行为及其微观机制的研究

文献类型:期刊论文

作者张广平
刊名机械强度
出版日期2004-12-30
期号S1页码:5-7
关键词金属薄膜 循环载荷 裂纹萌生 位错结构 尺寸效应
中文摘要金属薄膜广泛应用于大规模集成电路及微机电系统 (micro electro mechanicalsystems ,MEMS)设备中 ,循环加载下薄膜的可靠性至关重要。本研究在聚合物基体上制备不同厚度的铜薄膜。研究它们在循环加载下的疲劳裂纹萌生行为及其机制。实验结果表明 ,薄膜厚度影响薄膜的循环应变局部化和裂纹萌生行为。随薄膜厚度的减小 ,裂纹萌生从厚薄膜中的挤出诱发的疲劳开裂方式逐步转向较薄薄膜中的界面诱发的疲劳开裂方式。由于基体的约束 ,位错结构随薄膜厚度的变化是疲劳开裂行为变化的原因
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25506]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张广平. 循环加载下金属薄膜的裂纹萌生行为及其微观机制的研究[J]. 机械强度,2004(S1):5-7.
APA 张广平.(2004).循环加载下金属薄膜的裂纹萌生行为及其微观机制的研究.机械强度(S1),5-7.
MLA 张广平."循环加载下金属薄膜的裂纹萌生行为及其微观机制的研究".机械强度 .S1(2004):5-7.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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