传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孙秋霞,张鉴清,林薇薇 |
| 刊名 | 金属学报
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| 出版日期 | 2004-11-11 |
| 期号 | 11页码:1205-1209 |
| 关键词 | 阻抗谱 传输线 涂层厚度 阻挡性 粘结力 |
| 中文摘要 | 根据传输线类型的CR电路和结构固定的QR电路之间关系所建立的分析阻抗谱的方法,探讨了有机涂层厚度的不同影响及其应用.CR电路拟合稳定性较高,对于完整涂层,其参数C0随涂层吸水量增加的变化比恒相位角元件参数Y0更有规律,导出参数A1和B1可评价涂层厚度对阻挡性的影响.对于阻挡性不完整的薄涂层,在一定厚度范围内,离散电容Ci随特征频率f*变化的对数曲线斜率与涂层厚度无关,但与离散电容和电阻的相对增量比有确定的关系,可用于评价金属/涂层界面粘结力的变化,并解释了其原因. |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25558]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙秋霞,张鉴清,林薇薇. 传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响[J]. 金属学报,2004(11):1205-1209. |
| APA | 孙秋霞,张鉴清,林薇薇.(2004).传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响.金属学报(11),1205-1209. |
| MLA | 孙秋霞,张鉴清,林薇薇."传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响".金属学报 .11(2004):1205-1209. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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