疲劳过程中垂直晶界Cu双晶形变带中位错组态与裂纹形核
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李勇,李守新,李广义 |
| 刊名 | 金属学报
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| 出版日期 | 2004-05-11 |
| 期号 | 5页码:462-466 |
| 关键词 | Cu双晶 位错组态 裂纹 形变带 |
| 中文摘要 | 采用电子通道衬度技术对垂直晶界Cu双晶在疲劳过程中位错组态的演化与裂纹的形核进行了研究,结果表明,形变带中墙结构的间距从形成之初到疲劳裂纹出现始终保持恒定;穿晶裂纹与沿晶裂纹尖端的位错组态均为胞结构;裂纹优先从形变带产生。 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25744]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李勇,李守新,李广义. 疲劳过程中垂直晶界Cu双晶形变带中位错组态与裂纹形核[J]. 金属学报,2004(5):462-466. |
| APA | 李勇,李守新,李广义.(2004).疲劳过程中垂直晶界Cu双晶形变带中位错组态与裂纹形核.金属学报(5),462-466. |
| MLA | 李勇,李守新,李广义."疲劳过程中垂直晶界Cu双晶形变带中位错组态与裂纹形核".金属学报 .5(2004):462-466. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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