电子背散射衍射技术对疲劳铜单晶中的不同位错结构的取向变化的分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李勇,高薇,苏会和,李守新 |
| 刊名 | 电子显微学报
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| 出版日期 | 2003-12-25 |
| 期号 | 6页码:562-563 |
| 关键词 | 电子背散射衍射技术:7430 位错结构:4863 取向变化:2872 铜单晶:2869 扫描电子显微镜:1067 材料科学:912 中国科学院:852 金属研究所:828 形变带:796 疲劳过程:792 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25904]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李勇,高薇,苏会和,李守新. 电子背散射衍射技术对疲劳铜单晶中的不同位错结构的取向变化的分析[J]. 电子显微学报,2003(6):562-563. |
| APA | 李勇,高薇,苏会和,李守新.(2003).电子背散射衍射技术对疲劳铜单晶中的不同位错结构的取向变化的分析.电子显微学报(6),562-563. |
| MLA | 李勇,高薇,苏会和,李守新."电子背散射衍射技术对疲劳铜单晶中的不同位错结构的取向变化的分析".电子显微学报 .6(2003):562-563. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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