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NiAl超塑性变形的正电子寿命研究

文献类型:期刊论文

作者杜兴蒿,郭建亭,周彼德,熊良钺
刊名材料研究学报
出版日期2002-12-25
期号6页码:625-628
关键词NiAl 超塑性 正电子寿命 晶界结构
中文摘要研究了B2型多晶NiAl的晶界结构对缺陷态正电子寿命的影响,并结合正电子谱探讨了热挤压及超塑性变形过程后的晶界结构.热挤压后的NiAl合金具有完全的再结晶组织,而超塑性变形过程中的动态回复和再结晶是一种不完全再结晶过程,所得到的晶界仍属于亚晶界或小角度晶界范畴,再结晶晶界在超塑性变形过程中不产生滑动.
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/26295]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
杜兴蒿,郭建亭,周彼德,熊良钺. NiAl超塑性变形的正电子寿命研究[J]. 材料研究学报,2002(6):625-628.
APA 杜兴蒿,郭建亭,周彼德,熊良钺.(2002).NiAl超塑性变形的正电子寿命研究.材料研究学报(6),625-628.
MLA 杜兴蒿,郭建亭,周彼德,熊良钺."NiAl超塑性变形的正电子寿命研究".材料研究学报 .6(2002):625-628.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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