500℃下Ho-Ni-Ti三元合金系的相关系和相关化合物的基本特征
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张玉娟,庄应烘 |
| 刊名 | 自然科学进展
 |
| 出版日期 | 2001-06-25 |
| 期号 | 6页码:51-55 |
| 关键词 | 相图 二元相 X射线衍射 形状记忆效应 |
| 中文摘要 | 利用X射线衍射、差热分析、扫描电子显微镜和能谱分析等方法,测定了Ho-Ni-Ti三元合金系500°C时的等温截面,分析了此截面上所存在的中间相,确定了它们之间的相互关系.同时,对部分中间化合物的特性进行了讨论.实验分析结果表明此截面存在有10个二元化合物,无三元化合物.截面由13个单相区,23个两相区和11个三相区构成. |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/26948]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张玉娟,庄应烘. 500℃下Ho-Ni-Ti三元合金系的相关系和相关化合物的基本特征[J]. 自然科学进展,2001(6):51-55. |
| APA | 张玉娟,庄应烘.(2001).500℃下Ho-Ni-Ti三元合金系的相关系和相关化合物的基本特征.自然科学进展(6),51-55. |
| MLA | 张玉娟,庄应烘."500℃下Ho-Ni-Ti三元合金系的相关系和相关化合物的基本特征".自然科学进展 .6(2001):51-55. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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