低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构
文献类型：期刊论文
| 作者 | 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠 |
| 刊名 | 金属学报
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| 出版日期 | 2001-04-28 |
| 期号 | 4页码:337-339 |
| 关键词 | 低辐射薄膜 微观结构 HREM 纳米束分析 |
| 中文摘要 | 成功地制备了 ＴｉＯ２－Ａｇ－ＴｉＯ２－ＳｉＯ超薄多层膜的截面样品，并对其微观结构进行 ＴＥＭ， ＨＲＥＭ及纳米束 ＥＤＳ分析结果表明，薄膜各层厚度均匀，界面明锐、光滑 Ａｇ层由纳米晶组成，而 ＴｉＯ２和 ＳｉＯ层为非晶 Ａｇ在膜层中没有扩散或聚团，这也正是保证整个薄膜性能指标的一个重要因素 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/26988]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠. 低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构[J]. 金属学报,2001(4):337-339. |
| APA | 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠.(2001).低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构.金属学报(4),337-339. |
| MLA | 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠."低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构".金属学报 .4(2001):337-339. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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