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纳米Ti膜形成过程的扫描隧道显微镜观察

文献类型:期刊论文

作者谢天生,杜昊,孟祥敏,孙超,闻立时
刊名金属学报
出版日期2001-02-28
期号2页码:113-117
关键词磁控溅射 纳米Ti膜 扫描隧道显微镜(STM)
中文摘要用磁控溅射方法在聚合物薄膜基体上制备出不同厚度的纳米 Ti膜.扫描隧道显微镜(STM)的观察结果表明,初期膜是由直径小于2nm的形核粒子和粒子团聚体组成.粒子沉积呈岛状生长形成纳米晶粒结构随薄膜厚度增加,平均晶粒尺寸增加,形成大尺寸晶粒的连续薄膜.分析和讨论了薄膜生长过程的结构特征及溅射条件对薄膜结构的影响.
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27040]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
谢天生,杜昊,孟祥敏,孙超,闻立时. 纳米Ti膜形成过程的扫描隧道显微镜观察[J]. 金属学报,2001(2):113-117.
APA 谢天生,杜昊,孟祥敏,孙超,闻立时.(2001).纳米Ti膜形成过程的扫描隧道显微镜观察.金属学报(2),113-117.
MLA 谢天生,杜昊,孟祥敏,孙超,闻立时."纳米Ti膜形成过程的扫描隧道显微镜观察".金属学报 .2(2001):113-117.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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