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热压NiAl纳米晶块体材料的HREM观察及EDS分析

文献类型:期刊论文

作者杨晓云,贺连龙,周兰章,郭建亭,叶恒强
刊名金属学报
出版日期2000-09-18
期号9页码:907-912
关键词高分辨电子显微术 纳米尺度成分分析 纳米品 NiAl Al2O3
中文摘要利用高分辨电镜(HREM)及场发射电镜纳米尺度成分分析技术(EDS分析)研究了机械合金化和真空热压技术制备 的纳米 NIAI块体材料的微观结构. HREM及 EDS分析结果表明在球磨过程中形成第二相粒子 Al2O3分布于 NiAl晶粒内 部或边界上,分布于晶粒边界上的 Al2O3对晶界起钉扎作用,有效地抑制晶粒长大;此外,观察到纳米晶粒间存在无序区,这些 无序区也是抑制晶粒长大的一个因素
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27183]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
杨晓云,贺连龙,周兰章,郭建亭,叶恒强. 热压NiAl纳米晶块体材料的HREM观察及EDS分析[J]. 金属学报,2000(9):907-912.
APA 杨晓云,贺连龙,周兰章,郭建亭,叶恒强.(2000).热压NiAl纳米晶块体材料的HREM观察及EDS分析.金属学报(9),907-912.
MLA 杨晓云,贺连龙,周兰章,郭建亭,叶恒强."热压NiAl纳米晶块体材料的HREM观察及EDS分析".金属学报 .9(2000):907-912.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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