材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李斗星 |
| 刊名 | 电子显微学报
 |
| 出版日期 | 2000-04-25 |
| 期号 | 2页码:81-103 |
| 关键词 | 原子尺度分辨率 电子显微学 新相 缺陷 晶界结构 表征 图像处理 |
| 中文摘要 | 本文综述了材料科学中的高分辨电子显微学发展历史、现状与展望。重点讨论了在高分辨电子显微学中能直接观察物质中原子排列的直接成像法 ,能区分原子种类的选择成像法、能量过滤选择成像法和 Z-衬度像 ,能研究物质结构变化动态过程的分辨时间高分辨电子显微学 ,能定量地分析物质结构的定量高分辨电子显微学和遥控电子显微术的发展以及其在材料科学中的应用和展望 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27281]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李斗星. 材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望[J]. 电子显微学报,2000(2):81-103. |
| APA | 李斗星.(2000).材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望.电子显微学报(2),81-103. |
| MLA | 李斗星."材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望".电子显微学报 .2(2000):81-103. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。