压痕诱发单晶Si非晶化相变区的三维空间分布结构
文献类型:期刊论文
作者 | 吴亚桥,徐永波 |
刊名 | 金属学报
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出版日期 | 1999-03-18 |
期号 | 3页码:289-291 |
关键词 | 非晶化相变 压痕 空间分布 单晶硅 |
中文摘要 | 利用透射电子显微术(TEM)观察了单晶 Si维氏压痕区的结构转变平视和截面像相结合给出了压痕诱导 Si非晶化的轮廓图.其区域为与医头相似的倒四棱锥金字塔形,但其棱边夹角小于相对应的压头相对棱夹角残留的压痕深度很浅,直接证明了Si的压痕区具有很大的弹性回复量. |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27524] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴亚桥,徐永波. 压痕诱发单晶Si非晶化相变区的三维空间分布结构[J]. 金属学报,1999(3):289-291. |
APA | 吴亚桥,徐永波.(1999).压痕诱发单晶Si非晶化相变区的三维空间分布结构.金属学报(3),289-291. |
MLA | 吴亚桥,徐永波."压痕诱发单晶Si非晶化相变区的三维空间分布结构".金属学报 .3(1999):289-291. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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