高密度单脉冲电流对H62铜带力学性能的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 郭晓楠,沈以赴,周亦胄,何冠虎,周本濂 |
| 刊名 | 材料研究学报
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| 出版日期 | 1999-02-25 |
| 期号 | 1页码:73-75 |
| 关键词 | 脉冲电流 延伸率 位错 |
| 中文摘要 | 采用高密度单脉冲电流（SHCDE）处理H62，针对其力学性能的变化，从理论上计算了处理后所产生的温升，分析了高密度脉冲电流对材料的影响所导致的电致塑性． |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27535]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭晓楠,沈以赴,周亦胄,何冠虎,周本濂. 高密度单脉冲电流对H62铜带力学性能的影响[J]. 材料研究学报,1999(1):73-75. |
| APA | 郭晓楠,沈以赴,周亦胄,何冠虎,周本濂.(1999).高密度单脉冲电流对H62铜带力学性能的影响.材料研究学报(1),73-75. |
| MLA | 郭晓楠,沈以赴,周亦胄,何冠虎,周本濂."高密度单脉冲电流对H62铜带力学性能的影响".材料研究学报 .1(1999):73-75. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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