高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李斗星 |
| 刊名 | 材料研究学报
 |
| 出版日期 | 1998-10-15 |
| 期号 | 5页码:449-464 |
| 关键词 | 定量高分辨电子显微学 定量会聚束电子衍射 三级像散 慧差 原子尺度直接观察与模拟 |
| 中文摘要 | 本文综述了与高分辨率定量电子显微学有关的电子显微镜和相关技术、电子显微术的发展现状及展望、材料结构和缺陷的原子尺度直接观察与计算机模拟综合对比研究以及电镜的三级像散、彗差和薄膜效应等因素影响定量高分辨电子显微学测量结果的研究现状． |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27611]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李斗星. 高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用[J]. 材料研究学报,1998(5):449-464. |
| APA | 李斗星.(1998).高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用.材料研究学报(5),449-464. |
| MLA | 李斗星."高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用".材料研究学报 .5(1998):449-464. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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