高分辨电子显微像的定量分析与应用 I.基于图像处理的高分辨像定量分析方法
文献类型:期刊论文
作者 | 兰建章,王绍青,谢天生,于瀛大,孟祥敏,李斗星 |
刊名 | 电子显微学报
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出版日期 | 1998-02-25 |
期号 | 1页码:76-81 |
关键词 | 高分辨电子显微像 点阵畸变 定量分析 图像处理 |
中文摘要 | 本文通过研究高分辨电子显微像的图像处理技术,系统地建立了两种高分辨原子像亮点中心精确定位的处理方法:灰度梯度检测法和峰谷提取-灰度平均法。基于原子像亮点中心定位技术,使用最小二乘法,建立了测量高分辨像中局部点阵参数和晶格畸变的实际处理过程。结合像模拟、图像匹配等手段,详细研究了从高分辨像中提取元素分布、原子结构等信息的定量分析方法;并建立了一套UNIX平台上的高分辨像定量分析程序包,具有较高的精度和广泛的用途。 |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27738] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 兰建章,王绍青,谢天生,于瀛大,孟祥敏,李斗星. 高分辨电子显微像的定量分析与应用 I.基于图像处理的高分辨像定量分析方法[J]. 电子显微学报,1998(1):76-81. |
APA | 兰建章,王绍青,谢天生,于瀛大,孟祥敏,李斗星.(1998).高分辨电子显微像的定量分析与应用 I.基于图像处理的高分辨像定量分析方法.电子显微学报(1),76-81. |
MLA | 兰建章,王绍青,谢天生,于瀛大,孟祥敏,李斗星."高分辨电子显微像的定量分析与应用 I.基于图像处理的高分辨像定量分析方法".电子显微学报 .1(1998):76-81. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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