金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论
文献类型：期刊论文
| 作者 | 曹晓晖，唐兆麟，黄荣芳，闻立时，师昌绪 |
| 刊名 | 金属学报
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| 出版日期 | 1996-04-18 |
| 期号 | 4页码:404-408 |
| 关键词 | 薄膜 电导率 有效媒质理论 |
| 中文摘要 | 利用有效媒质理论描述了金属薄膜形成过程中电导率变化规律，与实验测得的Ａｌ薄膜形成过程中电导率变化结果比较接近．分析和讨论了一些影响计算结果准确性的因素． |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28043]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曹晓晖，唐兆麟，黄荣芳，闻立时，师昌绪. 金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论[J]. 金属学报,1996(4):404-408. |
| APA | 曹晓晖，唐兆麟，黄荣芳，闻立时，师昌绪.(1996).金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论.金属学报(4),404-408. |
| MLA | 曹晓晖，唐兆麟，黄荣芳，闻立时，师昌绪."金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论".金属学报 .4(1996):404-408. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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