金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论
文献类型:期刊论文
作者 | 曹晓晖,唐兆麟,黄荣芳,闻立时,师昌绪 |
刊名 | 金属学报
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出版日期 | 1996-04-18 |
期号 | 4页码:404-408 |
关键词 | 薄膜 电导率 有效媒质理论 |
中文摘要 | 利用有效媒质理论描述了金属薄膜形成过程中电导率变化规律,与实验测得的Al薄膜形成过程中电导率变化结果比较接近.分析和讨论了一些影响计算结果准确性的因素. |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28043] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 曹晓晖,唐兆麟,黄荣芳,闻立时,师昌绪. 金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论[J]. 金属学报,1996(4):404-408. |
APA | 曹晓晖,唐兆麟,黄荣芳,闻立时,师昌绪.(1996).金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论.金属学报(4),404-408. |
MLA | 曹晓晖,唐兆麟,黄荣芳,闻立时,师昌绪."金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论".金属学报 .4(1996):404-408. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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