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基于定量原子像图像分析的InSb/GaAs半导体界面原子结构模型

文献类型:期刊论文

作者王绍青,孟祥敏,谢天生,褚一鸣
刊名电子显微学报
出版日期1994-12-25
期号6页码:461
关键词图像分析:5956 原子像:5675 原子结构模型:3874 体界面:3007 高分辨:1452 晶格参数:1271 GaAs:1121 电子显微镜:1088 InSb:1073 半导:967
中文摘要基于定量原子像图像分析的InSb/GaAs半导体界面原子结构模型王绍青,孟祥敏,谢天生,褚一鸣(中科院金属所固体原子像实验室,沈阳110015)(中科院北京电子显微镜实验室,北京100080)由于InSb/GaAs半导体材料在半导体器件研制与生产中的...
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28299]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
王绍青,孟祥敏,谢天生,褚一鸣. 基于定量原子像图像分析的InSb/GaAs半导体界面原子结构模型[J]. 电子显微学报,1994(6):461.
APA 王绍青,孟祥敏,谢天生,褚一鸣.(1994).基于定量原子像图像分析的InSb/GaAs半导体界面原子结构模型.电子显微学报(6),461.
MLA 王绍青,孟祥敏,谢天生,褚一鸣."基于定量原子像图像分析的InSb/GaAs半导体界面原子结构模型".电子显微学报 .6(1994):461.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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