表面离化函数Φ（0）的研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 郭延风，徐乐英 |
| 刊名 | 电子显微学报
 |
| 出版日期 | 1994-08-25 |
| 期号 | 4页码:287-290 |
| 关键词 | 表面离化函数 电子背散射系数 质量厚度 |
| 中文摘要 | 用试验方法测定了不同衬底材料上各种薄膜的表面离化函数Φ（０），并与Φ（０）的计算值加以比较。在计算中引入了一个有效的电子背散射系数，代表了衬底，薄膜原子序数不同时对Φ（０）的综合效应。在此基础上，详细讨论了Φ（０）值与衬底、薄膜二者的电子背散射系数，以及薄膜质量厚度的关系。 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28387]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭延风，徐乐英. 表面离化函数Φ（0）的研究[J]. 电子显微学报,1994(4):287-290. |
| APA | 郭延风，徐乐英.(1994).表面离化函数Φ（0）的研究.电子显微学报(4),287-290. |
| MLA | 郭延风，徐乐英."表面离化函数Φ（0）的研究".电子显微学报 .4(1994):287-290. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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