一种测量超微粒子表面氧化层厚度的新方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈健,孙秀魁,陈文绣,杨明川,胡壮麒,魏文铎 |
| 刊名 | 真空科学与技术
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| 出版日期 | 1994-04-15 |
| 期号 | 2页码:103-106 |
| 关键词 | 超微粒子 氧化层 方法 |
| 中文摘要 | 通过XPS分析与Ar~+刻蚀相结合的方法，测量了Fe_(50)Pd_(50)合金超微粒子（UFP）的表面氧化层厚度，发现它的表面氧化层为1．4um厚，小于电镜观察到的表面非晶层厚度，表明此方法测量的表面氧化层厚度不受表面吸附层的影响，并且能直接了解UFP表面的具体氧化状态。 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28451]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈健,孙秀魁,陈文绣,杨明川,胡壮麒,魏文铎. 一种测量超微粒子表面氧化层厚度的新方法[J]. 真空科学与技术,1994(2):103-106. |
| APA | 陈健,孙秀魁,陈文绣,杨明川,胡壮麒,魏文铎.(1994).一种测量超微粒子表面氧化层厚度的新方法.真空科学与技术(2),103-106. |
| MLA | 陈健,孙秀魁,陈文绣,杨明川,胡壮麒,魏文铎."一种测量超微粒子表面氧化层厚度的新方法".真空科学与技术 .2(1994):103-106. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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