纳米粒子粒径评估及测试方法的比较
文献类型：期刊论文
| 作者 | 朱静,蔺锡伟,郭薇,贾丽萍,赵向荣,张晋远,柳春兰,叶恒强,宁小光 |
| 刊名 | 金属学报
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| 出版日期 | 1993-01-31 |
| 期号 | 1页码:49-58 |
| 关键词 | 纳米粒子 粒度评估 X射线小角散射 透射电镜综合分析—分散法 暗场技术 |
| 中文摘要 | 本文介绍了透射电镜综合分析—分散法测定纳米粒子粒径的方法,并将此法与X射线小角散射法及透射电镜暗场法测粒径进行了实验与分析的比较。认为采用X射线小角散射法与透射电镜综合分析—分散法相结合测定评估纳米粒子粒径可以以较快的速度得到准确的结果、综合的信息。 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28675]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱静,蔺锡伟,郭薇,贾丽萍,赵向荣,张晋远,柳春兰,叶恒强,宁小光. 纳米粒子粒径评估及测试方法的比较[J]. 金属学报,1993(1):49-58. |
| APA | 朱静,蔺锡伟,郭薇,贾丽萍,赵向荣,张晋远,柳春兰,叶恒强,宁小光.(1993).纳米粒子粒径评估及测试方法的比较.金属学报(1),49-58. |
| MLA | 朱静,蔺锡伟,郭薇,贾丽萍,赵向荣,张晋远,柳春兰,叶恒强,宁小光."纳米粒子粒径评估及测试方法的比较".金属学报 .1(1993):49-58. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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