X射线单晶定向的解析方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 林树智 ; 张喜章 ; 龚沿东 ; 宋小平 |
| 刊名 | 物理测试
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| 出版日期 | 1992-12-26 |
| 期号 | 6页码:24-28 |
| 关键词 | X射线 单晶 解析法 |
| 中文摘要 | 用X射线进行单晶定向是最有效的方法。传统使用极图投影吴氏网量度角度的人工操作,数据处理过程麻烦,准确度不高。本文用解析方法处理从劳埃背射照片上用格氏表读出的数据,为提高信息利用率以获得较准确的结果,在数据处理上使用最小二乘法。全部过程可由计算机完成,结果准确快捷。 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28721]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 林树智,张喜章,龚沿东,等. X射线单晶定向的解析方法[J]. 物理测试,1992(6):24-28. |
| APA | 林树智,张喜章,龚沿东,&宋小平.(1992).X射线单晶定向的解析方法.物理测试(6),24-28. |
| MLA | 林树智,et al."X射线单晶定向的解析方法".物理测试 .6(1992):24-28. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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