激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘圣麟,张功杼,任建世,王桢枢 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 1992-10-27 |
| 期号 | 5页码:35-40 |
| 关键词 | 辉光放电 原子发射光谱 表面分析 逐层 激光 |
| 中文摘要 | 应用辉光放电发射光谱(GD-OES)对经过激光处理的材料进行了表面逐层分析,深度达371μm,得到了所有5种合金元素Fe、Cr、Ni、B和Si的含量随深度变化的分布曲线。 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28745]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘圣麟,张功杼,任建世,王桢枢. 激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析[J]. 光谱学与光谱分析,1992(5):35-40. |
| APA | 刘圣麟,张功杼,任建世,王桢枢.(1992).激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析.光谱学与光谱分析(5),35-40. |
| MLA | 刘圣麟,张功杼,任建世,王桢枢."激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析".光谱学与光谱分析 .5(1992):35-40. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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