利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李家宝,康增桥,王中光 |
| 刊名 | 力学与实践
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| 出版日期 | 1992-06-29 |
| 期号 | 3页码:41-44 |
| 关键词 | X射线应力测定 双面剥层 残余应力分布 |
| 中文摘要 | 在具有矩形截面的平板或棒材的双面剥层X射线应力测定中,可以用幂级数来分段近似沿厚度方向变化的剥离面的实测应力曲线,从而计算剥层所产生的附加应力,求得原始真实应力沿厚度方向的分布.文中给出计算应力校正量的公式,并且用实测例说明,用项数不多的幂级数来近似实测应力曲线,就能得到足够高的近似程度,获得令人满意的校正结果. |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28819]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李家宝,康增桥,王中光. 利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布[J]. 力学与实践,1992(3):41-44. |
| APA | 李家宝,康增桥,王中光.(1992).利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布.力学与实践(3),41-44. |
| MLA | 李家宝,康增桥,王中光."利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布".力学与实践 .3(1992):41-44. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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