金属薄膜样品的制备——双喷电解抛光法中常见的问题及其解决办法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 马淑波 |
| 刊名 | 物理测试
 |
| 出版日期 | 1991-06-30 |
| 期号 | 3页码:64 |
| 关键词 | 金属薄膜样品:5286 电解抛光:5217 解决办法:3633 电子显微镜观察:2788 透射电镜:2759 样品夹:2307 样品制备:1925 实验室工作:1604 电解液成分:1534 抛光仪:1507 |
| 中文摘要 | <正> 目前透射电子显微镜观察的金属薄膜样品大多数是用双喷电解抛光仪进行电解抛光制备而成。样品制备成功与否直接关系到透射电镜照片质量。在透射电镜公共实验室工作中,会接触到各种各样的金属薄膜样品,其中理想的样品并不多。双喷电解抛光制样过程中经常会出现一些令人烦恼的问题,现仅就常见的提供如下粗浅的解决办法。 1 样品穿孔部位不在中心正常情况下,即针对样品已选择适当的电解液和最佳电压、电流值以及合适的电解抛光温度以后,抛光样品的穿孔部位本应在 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28972]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马淑波. 金属薄膜样品的制备——双喷电解抛光法中常见的问题及其解决办法[J]. 物理测试,1991(3):64. |
| APA | 马淑波.(1991).金属薄膜样品的制备——双喷电解抛光法中常见的问题及其解决办法.物理测试(3),64. |
| MLA | 马淑波."金属薄膜样品的制备——双喷电解抛光法中常见的问题及其解决办法".物理测试 .3(1991):64. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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