场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用
文献类型:期刊论文
作者 | 任大刚 |
刊名 | 材料科学进展
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出版日期 | 1989-12-27 |
期号 | 6页码:523-529 |
关键词 | 场离子显微镜 原子探针 微观结构 |
中文摘要 | 本文将场离子显微镜原子探针(FIM-AP)应用于材料微结构研究,包括氢与难熔金属表面相互作用及在奥氏体不锈钢中扩散、掺杂钨丝晶界观察、Mo 合金短程有序化及磁性材料沉淀相结构研究。讨论了 FIM-AP 在材料科学研究中应用的前景和存在问题。 |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29185] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 任大刚. 场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用[J]. 材料科学进展,1989(6):523-529. |
APA | 任大刚.(1989).场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用.材料科学进展(6),523-529. |
MLA | 任大刚."场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用".材料科学进展 .6(1989):523-529. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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