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场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用

文献类型:期刊论文

作者任大刚
刊名材料科学进展
出版日期1989-12-27
期号6页码:523-529
关键词场离子显微镜 原子探针 微观结构
中文摘要本文将场离子显微镜原子探针(FIM-AP)应用于材料微结构研究,包括氢与难熔金属表面相互作用及在奥氏体不锈钢中扩散、掺杂钨丝晶界观察、Mo 合金短程有序化及磁性材料沉淀相结构研究。讨论了 FIM-AP 在材料科学研究中应用的前景和存在问题。
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29185]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
任大刚. 场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用[J]. 材料科学进展,1989(6):523-529.
APA 任大刚.(1989).场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用.材料科学进展(6),523-529.
MLA 任大刚."场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用".材料科学进展 .6(1989):523-529.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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