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小空位团浅能级对正电子的声子激发比捕获率

文献类型:期刊论文

作者谌季强,龙期威,汪克林
刊名物理学报
出版日期1989-08-29
期号8页码:1360-1363
关键词声子激发:4965 正电子捕获:4465 空位团:4136 捕获率:4012 浅能级:3692 负温度:1814 温度依赖性:1688 束缚能:1080 声子态密度:903 波函数:654
中文摘要若小空位团中存在束缚能小于晶体德拜能量的正电子捕获态,则这一能态对自由正电子的捕获具有较强的温度依赖性。这种温度依赖性有两种类型,且比捕获率的取值也可能相当高,显示了与位错的很大不同。
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29218]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
谌季强,龙期威,汪克林. 小空位团浅能级对正电子的声子激发比捕获率[J]. 物理学报,1989(8):1360-1363.
APA 谌季强,龙期威,汪克林.(1989).小空位团浅能级对正电子的声子激发比捕获率.物理学报(8),1360-1363.
MLA 谌季强,龙期威,汪克林."小空位团浅能级对正电子的声子激发比捕获率".物理学报 .8(1989):1360-1363.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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