AP-FIM研究磁性材料微结构
文献类型：期刊论文
| 作者 | 任大刚 ; 刘治国 |
| 刊名 | 电子显微学报
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| 出版日期 | 1988-08-28 |
| 期号 | 4页码:53-57 |
| 关键词 | 沉淀相:5665 材料微结构:4384 场离子显微镜:3612 化学成份:3132 原子探针:3071 合金元素:2148 磁性材料:2144 永磁材料:1632 相结构:1515 剩余磁化强度:1484 |
| 中文摘要 | 场离子显微镜(FIM)是一种具有高分辨高放大倍数且能直接观察到固体表面单个原子的技术,将FIM与飞行时间质谱计配合构成原子探针——场离子显微镜(AP-F_2M)可鉴别极微区域(几nm)的化学成份,因此是研究材料微结构的有力工具。本文用AP-FIM研究了Al-Ni-Co永磁材料的微结构。用场离子显微镜观察了合金中沉淀相的形貌并用原子探针测定了不同沉淀相的化学成份及数量合金元素在沉淀相中分布。结果表明,合金中存在富铝相,富镍-钴相铁-钴-镍桐,少量Ce及Cu分布在富镍-钴相中。 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29318]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 任大刚,刘治国. AP-FIM研究磁性材料微结构[J]. 电子显微学报,1988(4):53-57. |
| APA | 任大刚,&刘治国.(1988).AP-FIM研究磁性材料微结构.电子显微学报(4),53-57. |
| MLA | 任大刚,et al."AP-FIM研究磁性材料微结构".电子显微学报 .4(1988):53-57. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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