二硫化钛电输运过程中的散射机制
文献类型:期刊论文
作者 | 陈昕,何青,王桢枢,周熙宁 |
刊名 | 半导体学报
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出版日期 | 1985-01-31 |
期号 | 1页码:25-31 |
关键词 | 散射机制:6545 二硫化钛:4347 输运过程:3745 光学声子:2434 电阻率:2297 热电势率:2217 层型结构:1600 迁移率:1476 非化学计量:1433 散射模型:1142 |
中文摘要 | 针对TiS_2电输运性质中散射机制的争论,我们测量了化学计量TiS_2的单晶、多晶粉末,和非化学计量的多晶粉末的热电势率S(T)(温度T在90-400K之间). 将载流子-载流子散射和Fivaz同极光学声子散射这两种模型的计算结果分别与S(T)的实验值进行了比较,认为能同时对S(T)和ρ(T)给出比较满意的解释的是Fivaz同极光学声子散射说. |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29712] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈昕,何青,王桢枢,周熙宁. 二硫化钛电输运过程中的散射机制[J]. 半导体学报,1985(1):25-31. |
APA | 陈昕,何青,王桢枢,周熙宁.(1985).二硫化钛电输运过程中的散射机制.半导体学报(1),25-31. |
MLA | 陈昕,何青,王桢枢,周熙宁."二硫化钛电输运过程中的散射机制".半导体学报 .1(1985):25-31. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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