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二硫化钛电输运过程中的散射机制

文献类型:期刊论文

作者陈昕,何青,王桢枢,周熙宁
刊名半导体学报
出版日期1985-01-31
期号1页码:25-31
关键词散射机制:6545 二硫化钛:4347 输运过程:3745 光学声子:2434 电阻率:2297 热电势率:2217 层型结构:1600 迁移率:1476 非化学计量:1433 散射模型:1142
中文摘要针对TiS_2电输运性质中散射机制的争论,我们测量了化学计量TiS_2的单晶、多晶粉末,和非化学计量的多晶粉末的热电势率S(T)(温度T在90-400K之间). 将载流子-载流子散射和Fivaz同极光学声子散射这两种模型的计算结果分别与S(T)的实验值进行了比较,认为能同时对S(T)和ρ(T)给出比较满意的解释的是Fivaz同极光学声子散射说.
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29712]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
陈昕,何青,王桢枢,周熙宁. 二硫化钛电输运过程中的散射机制[J]. 半导体学报,1985(1):25-31.
APA 陈昕,何青,王桢枢,周熙宁.(1985).二硫化钛电输运过程中的散射机制.半导体学报(1),25-31.
MLA 陈昕,何青,王桢枢,周熙宁."二硫化钛电输运过程中的散射机制".半导体学报 .1(1985):25-31.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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