场离子显微镜原子探针及在材料微观结构研究中应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 任大刚 ; 谢天生 |
| 刊名 | 电子显微学报
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| 出版日期 | 1984-08-28 |
| 期号 | 4页码:67 |
| 关键词 | 场离子显微镜:5475 结构研究:4735 结构观察:3464 原子探针:2714 单个原子:2504 材料科学:2207 掺杂元素:2185 微观:2065 表面物理:2033 高温蠕变性能:1972 |
| 中文摘要 | <正> 场离子显微镜(FIM)原子探针(AP)已广泛应用于材料科学及表面物理许多领域。本文简要介绍FIM—AP基本原理和仪器结构及本实验室将FIM—AP应用于材料微观结构研究取得部分结果。FIM将试样放大近二百万倍可直接观察到固体表面单个原子,AP能检测单个原子。仪器是在瑞典查尔摩斯工业大学帮助下与科学院沈阳科仪厂及北京科仪厂共同研制。FIM—AP应用于材料微观结构研究(1)钨晶体表面结构观察:图1a是W(011)为中心极二次对称像,这像反映了W原子在针尖表面上排列,相距3.16A两个W原子分开很清楚,图1b是和立方晶体极射投影图对照并标出了钨场离子像上的主要晶带轴和面指数。(2)掺杂灯丝晶界结构观察:钨丝中掺杂微量K—Si—Al元素可提高灯丝高温蠕变性能,但对掺杂元素引起灯丝结构变化机理并不十分清楚。图2a |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29740]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 任大刚,谢天生. 场离子显微镜原子探针及在材料微观结构研究中应用[J]. 电子显微学报,1984(4):67. |
| APA | 任大刚,&谢天生.(1984).场离子显微镜原子探针及在材料微观结构研究中应用.电子显微学报(4),67. |
| MLA | 任大刚,et al."场离子显微镜原子探针及在材料微观结构研究中应用".电子显微学报 .4(1984):67. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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