强碱性介质对硫化银膜表面的腐蚀与测硫条件的选择
文献类型:期刊论文
作者 | 郭鼎力 ; 隆雅琴 |
刊名 | 分析化学
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出版日期 | 1983-04-01 |
期号 | 3页码:205-207 |
关键词 | 硫化银:5188 强碱性介质:4259 硫电极:3277 膜表面:2946 痕量硫:2647 灵敏度:2546 直流数字电压表:2526 抗坏血酸:2492 电极性能:2255 测硫:2081 |
中文摘要 | <正> 硫化银膜构成的硫/银离子选择电极可用于硫和银等的分析,其电极性能已有一些研究。由于S~(2-)要水解,人们采用增加溶液碱度的办法促进S~(2-)离子的生成,以期提高电极检测硫的灵敏度,但仅能实测10~(-5)M〔S~(2-)〕。而该电极可响应的硫离子活度是10~(-25)M。我们初步研究了产生这种差别的原因,进而拟定了痕量硫的测试条件。主要仪器、试剂与实验方法仪器:PZ-8型直流数字电压表;pHS-2型酸度计;681型磁搅拌器;Neophot-2型显 |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29858] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭鼎力,隆雅琴. 强碱性介质对硫化银膜表面的腐蚀与测硫条件的选择[J]. 分析化学,1983(3):205-207. |
APA | 郭鼎力,&隆雅琴.(1983).强碱性介质对硫化银膜表面的腐蚀与测硫条件的选择.分析化学(3),205-207. |
MLA | 郭鼎力,et al."强碱性介质对硫化银膜表面的腐蚀与测硫条件的选择".分析化学 .3(1983):205-207. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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