电子显微学的过去、现状与展望
文献类型:期刊论文
作者 | 郭可信 |
刊名 | 分析测试通报
![]() |
出版日期 | 1982-06-15 |
期号 | 0页码:4-13 |
关键词 | 透射电子显微学:5466 透射电子显微镜:4044 晶体缺陷:3473 电子能量损失谱:3220 晶体结构:3118 电子衍射:2859 结构分析:2028 原子序数:1810 空间分辨率:1758 高分辨:1715 |
中文摘要 | 电子显微镜自1932年问世以来,经过半个世纪的发展,不但作为显微镜主要指标的分辨率已由开始时的一百埃提高到2—3埃,可以直接分辨原子,并且还能进行纳米(10埃)尺度的晶体结构及化学组成的分析,成为全面评价固体微观特征的综合性仪器。电子显微镜在固体科学中的应用经历了三个高潮:首先是50~60年代的薄晶体中位错等晶体缺陷的衍衬象的观察;其次是70年代的极薄晶体的高分辨结构象及原子象的观察;还有就是近几年来兴起的分析电子显微学,对几十埃区域的固体,用X射线能谱及电子能量损失谱进行成分分析以及用微束电子衍射进行结构分析。这些成就无疑将推动包括固体物理、固体化学、固体电子学、材料科学、地质矿物、晶体学等学科在内的固体科学的发展。 |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29906] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭可信. 电子显微学的过去、现状与展望[J]. 分析测试通报,1982(0):4-13. |
APA | 郭可信.(1982).电子显微学的过去、现状与展望.分析测试通报(0),4-13. |
MLA | 郭可信."电子显微学的过去、现状与展望".分析测试通报 .0(1982):4-13. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。