用正电子湮没技术研究形变铁的恢复
文献类型:期刊论文
作者 | 曹玔,王蕴玉,熊兴民,熊良钺,姜健 |
刊名 | 物理学报
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出版日期 | 1982-01-31 |
期号 | 1页码:126-131 |
关键词 | 形变:5384 正电子湮没技术:4904 正电子湮没寿命:4465 捕获速率:2575 退火温度:2552 多普勒加宽:2545 参考样品:1534 s参数:1453 缺陷浓度:1245 自由迁移:1169 |
中文摘要 | 本文介绍应用正电子湮没寿命和多普勒加宽方法研究60%形变铁等时退火各阶段中缺陷的恢复行为,实验结果说明正电子湮没平均寿命τ及多普勒加宽的S参数都是退火温度的函数,完整晶体中湮没寿命τ_f=111±lPS,缺陷中湮没寿命τ_d162±lps,本文还根据捕获模型计算了正电子的捕获速率及τ_1,结果证明与理论预期的完全一致,经计算得出捕获正电于的相对缺陷浓度的范围为10~(-7)-10~(-4)数量级。 |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29941] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 曹玔,王蕴玉,熊兴民,熊良钺,姜健. 用正电子湮没技术研究形变铁的恢复[J]. 物理学报,1982(1):126-131. |
APA | 曹玔,王蕴玉,熊兴民,熊良钺,姜健.(1982).用正电子湮没技术研究形变铁的恢复.物理学报(1),126-131. |
MLA | 曹玔,王蕴玉,熊兴民,熊良钺,姜健."用正电子湮没技术研究形变铁的恢复".物理学报 .1(1982):126-131. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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