SiC多型体的点阵象
文献类型：期刊论文
| 作者 | 叶恒强,周敬,郭可信 |
| 刊名 | 科学通报
 |
| 出版日期 | 1980-03-01 |
| 期号 | 4页码:164-166 |
| 关键词 | 多型体:8998 电子显微镜:2790 晶体点阵:2725 X射线衍射:1184 晶体结构:985 堆垛顺序:796 层状结构:536 不同厚度:458 单晶体:411 周期性:372 |
| 中文摘要 | <正> X射线衍射及电子衍射分析虽然可以给出很精确的晶体结构资料,但都是大量单胞的平均结果。利用电子显微镜的高分辨率。可以直接拍摄点阵象,揭示晶体点阵的周期性。一维点阵象能显示不同厚度的各种层状单元的堆垛顺序,特别适用于研究层状结构。例如,对于YSeF进行的X射线研究发现有8种多型体,由于只分离出3种多型体的单晶体,因此只能确定其中3种多型体的结构。用电子显微镜拍摄微晶的点阵象,不但确定了X射线已经发现的 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/30040]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 叶恒强,周敬,郭可信. SiC多型体的点阵象[J]. 科学通报,1980(4):164-166. |
| APA | 叶恒强,周敬,郭可信.(1980).SiC多型体的点阵象.科学通报(4),164-166. |
| MLA | 叶恒强,周敬,郭可信."SiC多型体的点阵象".科学通报 .4(1980):164-166. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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