有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系
文献类型：期刊论文
| 作者 | 何怡贞,徐升美 |
| 刊名 | 物理学报
 |
| 出版日期 | 1958-01-31 |
| 期号 | 1页码:54-63 |
| 关键词 | 自吸收:7613 定标:3710 时谱:2261 物质浓度:2253 预燃:2129 线强度:2108 迁移电流:2023 取样法:1934 弧柱:794 分析元素:792 |
| 中文摘要 | 谱线强度(I)与物质浓度(C)之间的定量关系是定量光谱分析的物理基础。由于实际光源中的谱线或多或少地都有自吸收现象,所以在实际情形下,I与C的关系是较为复杂的。 本文中应用迁移取样法进行铸铁中的硅的光谱分析,选择了适当的条件,使Si2516多重谱线系中的Si2519线在光源中不发生自吸收,因而可以用它的强度代表光源中的物质浓度,同时测定了多重谱线系中发生自吸收最严重的Si2516线的定标曲线斜度b与物质浓度C的关系(b=klogC+β+1),从而得出I与C的关系式如下: IogI=k/2(logC)~2+(β+1)logC+α,这里β与α是试验条件下的两个常数;k是b与logI_(2519)的关系直线的斜度。在理想的情形,当谱线没有自吸收时,b=1,k=0,所以logI与logC之间便有直线的关系;当谱线有自吸收时,谱线的强度与物质的浓度有抛物线的关系。这个关系式所描述的与在较大浓度范围内一般实验中所观察的一致。 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/30154]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 何怡贞,徐升美. 有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系[J]. 物理学报,1958(1):54-63. |
| APA | 何怡贞,徐升美.(1958).有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系.物理学报(1),54-63. |
| MLA | 何怡贞,徐升美."有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系".物理学报 .1(1958):54-63. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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