红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孙国恩 ; 滕红 ; 张春玲 ; 窦艳丽 ; 徐经伟 |
| 刊名 | 分析化学
 |
| 出版日期 | 2010 |
| 卷号 | 38期号:8页码:1182-1185 |
| 关键词 | 红外光谱 线阵列检测 聚合物分散液晶 分子取向 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 通讯作者 | 窦艳丽 |
| 中文摘要 | 采用偏振红外光谱和变温红外光谱研究聚合物分散液晶膜中液晶分子取向随外加电场及温度的变化。利用线阵列检测技术表征了聚合物与液晶界面处的成分分布。结果表明,线阵列检测技术能够快速而直观地给出成分分布图,通过该成分分布图可以解释PDLC在温度场作用下分子取向的变化。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-07 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/44098]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙国恩,滕红,张春玲,等. 红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向[J]. 分析化学,2010,38(8):1182-1185. |
| APA | 孙国恩,滕红,张春玲,窦艳丽,&徐经伟.(2010).红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向.分析化学,38(8),1182-1185. |
| MLA | 孙国恩,et al."红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向".分析化学 38.8(2010):1182-1185. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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