Valence band offset of wurtzite InN/SrTiO3 heterojunction measured by x-ray photoelectron spectroscopy
文献类型：期刊论文
| 作者 | Li, Zhiwei ; Zhang, Biao ; Wang, Jun ; Liu, Jianming ; Liu, Xianglin ; Yang, Shaoyan ; Zhu, Qinsheng ; Wang, Zhanguo |
| 刊名 | nanoscale research letters
 |
| 出版日期 | 2011 |
| 卷号 | 6页码:1-4 |
| 关键词 | Conduction bands Photons X ray photoelectron spectroscopy Zinc sulfide |
| ISSN号 | 19317573 |
| 通讯作者 | li, z.(lizhiwei@semi.ac.cn) |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | EI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-06-14 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23126]  |
| 专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, Zhiwei,Zhang, Biao,Wang, Jun,et al. Valence band offset of wurtzite InN/SrTiO3 heterojunction measured by x-ray photoelectron spectroscopy[J]. nanoscale research letters,2011,6:1-4. |
| APA | Li, Zhiwei.,Zhang, Biao.,Wang, Jun.,Liu, Jianming.,Liu, Xianglin.,...&Wang, Zhanguo.(2011).Valence band offset of wurtzite InN/SrTiO3 heterojunction measured by x-ray photoelectron spectroscopy.nanoscale research letters,6,1-4. |
| MLA | Li, Zhiwei,et al."Valence band offset of wurtzite InN/SrTiO3 heterojunction measured by x-ray photoelectron spectroscopy".nanoscale research letters 6(2011):1-4. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。