原子力显微镜研究萎锈灵对玉米黑粉菌细胞壁的影响
文献类型:期刊论文
作者 | 古宁宇 ; 刘彩胜 ; 唐纪琳 |
刊名 | 江西化工
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出版日期 | 2011 |
期号 | 2页码:62-64 |
关键词 | 原子力显微镜 玉米黑粉菌 萎锈灵 |
ISSN号 | 1008-3103 |
中文摘要 | 用原子力显微镜研究了不同浓度萎锈灵药物对玉米黑粉菌表面的形貌的影响。结果发现黑粉菌经过萎锈灵作用后表面出现很多无规则的小坑,通过表征统计表明菌体坑的数目随着药物浓度增加而增加,而菌体坑的深度没有改变。对萎锈灵作用玉米黑粉菌的影响有了进一步的认识。 |
收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2012-06-12 |
源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/45271] ![]() |
专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 古宁宇,刘彩胜,唐纪琳. 原子力显微镜研究萎锈灵对玉米黑粉菌细胞壁的影响[J]. 江西化工,2011(2):62-64. |
APA | 古宁宇,刘彩胜,&唐纪琳.(2011).原子力显微镜研究萎锈灵对玉米黑粉菌细胞壁的影响.江西化工(2),62-64. |
MLA | 古宁宇,et al."原子力显微镜研究萎锈灵对玉米黑粉菌细胞壁的影响".江西化工 .2(2011):62-64. |
入库方式: OAI收割
来源:长春应用化学研究所
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