NaFion聚合物薄膜冠醚修饰电极用于阳极溶出伏安法测定痕量铊
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王遇冬 ; 董绍俊 |
| 刊名 | 分析化学
 |
| 出版日期 | 1988 |
| 卷号 | 16期号:3页码:216-219 |
| 关键词 | 汞膜电极 玻碳电极 平行测定 双环己基 化学修饰电极 痕量铊 富集时间 阳极溶出伏安法 聚合物薄膜 冠醚 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 通讯作者 | 董绍俊 |
| 中文摘要 | 用涂层法制备了Nafion聚合物薄膜冠醚(双环己基-18-王冠-6)修饰电极并用于痕量铊的阳极溶出伏安法测定。常见金属离子Cu(Ⅰ),Fe(Ⅰ),Co(Ⅰ),Ni(Ⅰ),In(Ⅰ),Sn(Ⅰ)和Zn(Ⅰ)无干扰,当Pb(Ⅰ)和Cd(Ⅰ)共存时对铊的测定有干扰,用EDTA作掩蔽剂可很好地消除干扰,在-1.30V富集30分钟检出限可低至2×10~-12M。平行测定十次相对标准偏差是2.32％。与玻碳电极相比,Nafion冠醚膜电极对Tl(Ⅰ)有较强的络合吸附能力和较高的测定灵敏度。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-13 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/45712]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王遇冬,董绍俊. NaFion聚合物薄膜冠醚修饰电极用于阳极溶出伏安法测定痕量铊[J]. 分析化学,1988,16(3):216-219. |
| APA | 王遇冬,&董绍俊.(1988).NaFion聚合物薄膜冠醚修饰电极用于阳极溶出伏安法测定痕量铊.分析化学,16(3),216-219. |
| MLA | 王遇冬,et al."NaFion聚合物薄膜冠醚修饰电极用于阳极溶出伏安法测定痕量铊".分析化学 16.3(1988):216-219. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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