X光荧光光谱中影响系数的自洽校正法测定及应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 吴明嘉 ; 纪杉 |
| 刊名 | 分析化学
 |
| 出版日期 | 1987 |
| 卷号 | 15期号:12页码:1123-1126 |
| 关键词 | 强度值 校正方法 自洽 荧光光谱分析 二元体系 测定 经验系数法 校正法 影响系数 多元体系 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 中文摘要 | 在X光荧光光谱分析中,经验系数法的元素间的影响系数α_(ij)一般是在二元体系中求得的,这有两个缺点(1)费时;(2)二元体系的α_(ij)用于多元体系,要引入误差。 R.Tertian在1979年对他提出自洽校正方法进行了改进。本文又对R.Tertian的方法加以改进,使得用n+3个标样,测n(n+3)次强度值,可得到n(n-1)个α_(ij)系数。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-14 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/46065]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴明嘉,纪杉. X光荧光光谱中影响系数的自洽校正法测定及应用[J]. 分析化学,1987,15(12):1123-1126. |
| APA | 吴明嘉,&纪杉.(1987).X光荧光光谱中影响系数的自洽校正法测定及应用.分析化学,15(12),1123-1126. |
| MLA | 吴明嘉,et al."X光荧光光谱中影响系数的自洽校正法测定及应用".分析化学 15.12(1987):1123-1126. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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