X射线荧光滤纸片法分析稀土样品谱线间干扰系数的求得和应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 贺春福 ; 刘学东 ; 任红星 |
| 刊名 | 分析化学
 |
| 出版日期 | 1987 |
| 卷号 | 15期号:10页码:933-935 |
| 关键词 | 干扰系数 荧光 滤纸片法 基体效应 稀土元素谱线 样品分析 干扰元素 混合稀土 射线 测量误差 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 中文摘要 | X射线荧光谱法分析稀土元素时,采用滤纸片法制样,引起测量误差的问题报道中已有讨论。由于滤纸上吸附样品量仅1—2mg,一般认为基体效应可以忽略,但稀土元素谱线间的干扰是严重的问题。本文主要是探讨稀土元素谱线间干扰系数的求得及将其应用于混合稀土样品分析。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-14 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/46071]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 贺春福,刘学东,任红星. X射线荧光滤纸片法分析稀土样品谱线间干扰系数的求得和应用[J]. 分析化学,1987,15(10):933-935. |
| APA | 贺春福,刘学东,&任红星.(1987).X射线荧光滤纸片法分析稀土样品谱线间干扰系数的求得和应用.分析化学,15(10),933-935. |
| MLA | 贺春福,et al."X射线荧光滤纸片法分析稀土样品谱线间干扰系数的求得和应用".分析化学 15.10(1987):933-935. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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