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高-1,2聚丁二烯微结构的红外光谱分析

文献类型:期刊论文

作者吴雅南 ; 宫秀芬
刊名分析化学
出版日期1987
卷号15期号:8页码:693-697
关键词构型 聚丁二烯橡胶 涂膜法 微结构 均方根误差 谱带 分析误差 谱分析方法 顺式含量 红外光谱分析
ISSN号0253-3820
中文摘要自 Silas 和 Kimmer 提出可不用高纯标样的红外光谱分析方法后,这种方法被广泛地应用于聚丁二烯橡胶微结构的分析,但在聚丁二烯橡胶的分析中,由于顺式-1,4谱带在650—880cm~(-1)区,随含量的变化可出现675、738和775cm~(-1)三个谱带,这些谱带依赖于相邻单元的构型,与链结构的变化有关。由于这种顺式谱带的多变性,导致了聚丁二烯构型含量分析误差。为此不同作者采用不同的顺式-1,4谱带作为分析带。聚丁二烯构型含量分析误差在顺式含量低用薄膜进行测量时表现得尤为突出。本工作结合高-1,2聚丁二
收录类别CSCD收录国内期刊论文
语种中文
公开日期2012-06-14
源URL[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/46106]  
专题长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
吴雅南,宫秀芬. 高-1,2聚丁二烯微结构的红外光谱分析[J]. 分析化学,1987,15(8):693-697.
APA 吴雅南,&宫秀芬.(1987).高-1,2聚丁二烯微结构的红外光谱分析.分析化学,15(8),693-697.
MLA 吴雅南,et al."高-1,2聚丁二烯微结构的红外光谱分析".分析化学 15.8(1987):693-697.

入库方式: OAI收割

来源:长春应用化学研究所

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