火花源质谱法分析绝缘晶体
文献类型：期刊论文
| 作者 | 隋喜云 ; 董兆权 ; 王子树 ; 顾浩 ; 李德林 |
| 刊名 | 质谱学报
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| 出版日期 | 1985 |
| 卷号 | 6期号:4页码:1-10 |
| 关键词 | 离子流 强度比 杂质元素 方法研究 人工晶体 曝光量 晶体片 铝电极 参考样品 |
| ISSN号 | 1004-2997 |
| 中文摘要 | 本文提出了用火花源质谱仪测定人工晶体中杂质元素的一种新方法。其优点是不易引入环境和试剂沾污,灵敏度较高,样品电极与对电极的离子流强度比稳定。将晶体切成直径5毫米、厚0.3毫米的园片直接装入“T”型电极端面凹槽中,与高纯铝对电极在高电压下击穿打火。做了对电极选择,击穿条件、离子流强度比及重现性等一系列条件实验,并用合成参考样品进行了定量分析方法研究。本方法对各种晶体样品皆可进行半定量分析,若有类似被测样品成分的晶体标样即可进行定量分析。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-14 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/46590]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 隋喜云,董兆权,王子树,等. 火花源质谱法分析绝缘晶体[J]. 质谱学报,1985,6(4):1-10. |
| APA | 隋喜云,董兆权,王子树,顾浩,&李德林.(1985).火花源质谱法分析绝缘晶体.质谱学报,6(4),1-10. |
| MLA | 隋喜云,et al."火花源质谱法分析绝缘晶体".质谱学报 6.4(1985):1-10. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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