介绍一种谱图测量用尺
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孙万明 |
| 刊名 | 化学世界
 |
| 出版日期 | 1985 |
| 期号 | 1页码:13-14 |
| 关键词 | 示意图 分析技术 射线衍射分析 分度值 分光光度计 定性分析 峰位 定量分析 用途 直接测量 |
| ISSN号 | 0367-6358 |
| 通讯作者 | 孙万明 |
| 中文摘要 | 在各种光谱、色谱、X射线衍射等分析技术上,除根据峰位(对应于波长、时间、角度等)做定性分析外,也要根据某些特征峰的峰高或积分面积(或称强度)来做定量分析。大家所熟知的分光光度计就是根据对应波长的吸收峰高来定量的。近几年,应用红外光谱对 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-14 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/46601]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙万明. 介绍一种谱图测量用尺[J]. 化学世界,1985(1):13-14. |
| APA | 孙万明.(1985).介绍一种谱图测量用尺.化学世界(1),13-14. |
| MLA | 孙万明."介绍一种谱图测量用尺".化学世界 .1(1985):13-14. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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