玻璃石墨金膜电极电位溶出法测定锡
文献类型:期刊论文
作者 | 孙文涛 ; 汪尔康 |
刊名 | 分析试验室
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出版日期 | 1985 |
卷号 | 4期号:2页码:10-13 |
关键词 | 汞膜电极 工作电极 氧化剂浓度 微分电位溶出 预电解 电位溶出法 金膜电极 定量推导 测定锡 |
ISSN号 | 1000-0720 |
中文摘要 | 目前电位溶出法常用的工作电极为汞膜电极,常用的氧化剂为溶解氧或汞(Ⅱ)和铬(Ⅵ)。在伏安溶出法中,采用金膜电极仅用于碲、砷、汞、锗等离子的测定,在电位溶出法中也有报导,但就地镀金膜电极电位溶出法尚未见记载。我们经过研究,成功地采用就地镀金的金膜电极对铜、铋、锑、铅进行了测定,蓝对该方法的机理进行了定量推导和探讨。本文进一步用就地镀金膜电极对锡进行了测定,溶液中的Sn(Ⅳ)和Sn(Ⅱ)首先被还原富集于金膜 |
收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2012-06-14 |
源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/46608] ![]() |
专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙文涛,汪尔康. 玻璃石墨金膜电极电位溶出法测定锡[J]. 分析试验室,1985,4(2):10-13. |
APA | 孙文涛,&汪尔康.(1985).玻璃石墨金膜电极电位溶出法测定锡.分析试验室,4(2),10-13. |
MLA | 孙文涛,et al."玻璃石墨金膜电极电位溶出法测定锡".分析试验室 4.2(1985):10-13. |
入库方式: OAI收割
来源:长春应用化学研究所
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