发射光谱光电直读法测定高纯铝中的微量杂质
文献类型：期刊论文
| 作者 | 黄富育 ; 孔詠梅 ; 王俊德 |
| 刊名 | 分析化学
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| 出版日期 | 1984 |
| 卷号 | 12期号:8页码:730-732 |
| 关键词 | 工作曲线 分析灵敏度 多元素同时测定 固体样品 光电直读法 高纯铝 光电直读光谱仪 发射光谱 微量杂质 光电法 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 中文摘要 | 发射光谱光电直读(简称“光电法”)直接分析固体样品,具有快速、准确、多元素同时测定等优点,但以往的方法,灵敏度都比较低。鹿岛次郎等报导,光电法直接测定高纯铝固体样品中的Fe、Si和Cu时,它们的分析含量范围分别为0.001—1.5％,0.001—2.0％和0.001—1.0％,当它们的含量低于0.01时,分析精度(相对均方偏差)为10％.美国利用1.5米或20米光栅光电直读光谱仪分析上述含量元素时,所得的工作曲线形状是非线性的。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-15 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/46903]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄富育,孔詠梅,王俊德. 发射光谱光电直读法测定高纯铝中的微量杂质[J]. 分析化学,1984,12(8):730-732. |
| APA | 黄富育,孔詠梅,&王俊德.(1984).发射光谱光电直读法测定高纯铝中的微量杂质.分析化学,12(8),730-732. |
| MLA | 黄富育,et al."发射光谱光电直读法测定高纯铝中的微量杂质".分析化学 12.8(1984):730-732. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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