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变换工艺条件对C.V.D法制得的多晶硅薄膜电阻率及其剖面分布的影响

文献类型:期刊论文

作者韩桂林 ; 王岚 ; 刘连元
刊名太阳能学报
出版日期1983
卷号4期号:3页码:325-329
关键词电阻率剖面 p型 成膜温度 面电阻率 剖面分布 n型 多晶硅薄膜 变换工艺
ISSN号0254-0096
中文摘要为了制备高效多晶硅薄膜太阳电池及其它半导体薄膜光电器件,除了需要选择成膜工艺条件外,还应借助对工艺条件等的控制,实现对膜的电阻率及其剖面分布的有效控制,这在光伏电池及半导体器件研制过程中是很重要的。本工作基于上述目的,在用化学气相沉积法(C.V.D)制备多晶硅薄膜太阳电池过程中,对膜的电阻率及其剖面分布与各种工艺条件的关
收录类别CSCD收录国内期刊论文
语种中文
公开日期2012-06-15
源URL[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/46969]  
专题长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
韩桂林,王岚,刘连元. 变换工艺条件对C.V.D法制得的多晶硅薄膜电阻率及其剖面分布的影响[J]. 太阳能学报,1983,4(3):325-329.
APA 韩桂林,王岚,&刘连元.(1983).变换工艺条件对C.V.D法制得的多晶硅薄膜电阻率及其剖面分布的影响.太阳能学报,4(3),325-329.
MLA 韩桂林,et al."变换工艺条件对C.V.D法制得的多晶硅薄膜电阻率及其剖面分布的影响".太阳能学报 4.3(1983):325-329.

入库方式: OAI收割

来源:长春应用化学研究所

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