用电位溶出法研究逐级络合物
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张寿松 ; 杨洁 |
| 刊名 | 分析化学
 |
| 出版日期 | 1983 |
| 卷号 | 11期号:8页码:561-565 |
| 关键词 | 极谱法 硫氰酸根络合物 络合剂 形成常数 痕量金属 金属离子 电位溶出法 数学分析 金属络合物 痕量分析 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 中文摘要 | DeFord和Hume对金属离子半波电位随络合剂浓度的变化进行了数学分析,可以确定形成的络合物数目及测定逐级络合物的形成常数。很多极谱工作者现在仍然采用这种方法研究逐级络合物。电位溶出法可用于痕量分析,尚未见报导其它有关电化学研究方面的应用。为了扩大其应用 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-15 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/47067]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张寿松,杨洁. 用电位溶出法研究逐级络合物[J]. 分析化学,1983,11(8):561-565. |
| APA | 张寿松,&杨洁.(1983).用电位溶出法研究逐级络合物.分析化学,11(8),561-565. |
| MLA | 张寿松,et al."用电位溶出法研究逐级络合物".分析化学 11.8(1983):561-565. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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