硫化镉-硫化亚铜薄膜电池的x-射线光电子能谱分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈骅 ; 陈传正 ; 李少羽 ; 康秉杰 ; 杜有如 ; 汤吉松 |
| 刊名 | 分析化学
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| 出版日期 | 1981 |
| 卷号 | 9期号:5页码:544-547 |
| 关键词 | 射线 光电子能谱分析 硫化亚铜 铜离子 热处理条件 电子伏 光电子能谱法 电性能 薄膜样品 薄膜电池 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 中文摘要 | 用x-射线光电子能谱法观察了不同条件下处理的CdS-Cu_2S薄膜电池样品Cu_2S层中铜的价态、Cd(Ⅱ)含量的相对变化以及CdS层中铜离子的扩散情况,对于研究此类电池电性能改变的原因提供了有用的线索。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-18 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/47369]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈骅,陈传正,李少羽,等. 硫化镉-硫化亚铜薄膜电池的x-射线光电子能谱分析[J]. 分析化学,1981,9(5):544-547. |
| APA | 陈骅,陈传正,李少羽,康秉杰,杜有如,&汤吉松.(1981).硫化镉-硫化亚铜薄膜电池的x-射线光电子能谱分析.分析化学,9(5),544-547. |
| MLA | 陈骅,et al."硫化镉-硫化亚铜薄膜电池的x-射线光电子能谱分析".分析化学 9.5(1981):544-547. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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