溶出伏安法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张寿松 |
| 刊名 | 分析化学
 |
| 出版日期 | 1980 |
| 卷号 | 8期号:4页码:371-376 |
| 关键词 | 汞膜电极 电化学 溶出伏安法 固体电极 检测下限 微分脉冲溶出法 电极材料 电容电流 预浓缩 悬汞电极 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 通讯作者 | 张寿松 |
| 中文摘要 | 痕量分析中的电化学(伏安)溶出法,因其仪器简单和对某些物质的测定有很好准确度、精密度而占有相当重要的地位。1931年该法首次被使用,伹随后这方面的工作还是开展不多的。1960年发展了悬汞电极和汞膜电极的理论,近年来应用日益增多。文献中已综述溶出伏安法的原理、应用,还出版了有关溶出法的专著。本文将对其基本原理、仪器和操作技术作一简述。基本原理经典极谱检测下限为10~(-5)M。这是由背景电流(杂质的电解电流、双电层的电容电流和电子 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-18 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/47431]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张寿松. 溶出伏安法[J]. 分析化学,1980,8(4):371-376. |
| APA | 张寿松.(1980).溶出伏安法.分析化学,8(4),371-376. |
| MLA | 张寿松."溶出伏安法".分析化学 8.4(1980):371-376. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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