光栅单色器中精密直线位移的测试与标定系统
文献类型：期刊论文
| 作者 | 佟亚军 ; 何晓业 ; 赵屹东 ; 郑雷 ; 肖体乔 ; 王秋平 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 2009 |
| 期号 | 5 |
| 关键词 | 直线位移 测量和标定 光栅单色器 |
| 通讯作者 | 佟亚军 |
| 中文摘要 | 在同步辐射光束线建设中,为达到单色器的光谱分辨率要求,对波长扫描机构的定位精度要求在μm量级。我们建立的由激光干涉仪、自准直仪组成的直线位移测试系统,可以对直线位移机构进行测试并对机构的直线位移编码器进行标定。该系统不但实现了直线位移的精密测量,还能对机构的直线性进行测量。应用该系统测出位移范围为160mm的直线位移机构的重复精度为1.0×10-3mm,分辨率达7.5×10-5mm,对光栅尺的标定精度达到RMS=3.0×10-4mm。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-05-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8370]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 佟亚军,何晓业,赵屹东,等. 光栅单色器中精密直线位移的测试与标定系统[J]. 核技术,2009(5). |
| APA | 佟亚军,何晓业,赵屹东,郑雷,肖体乔,&王秋平.(2009).光栅单色器中精密直线位移的测试与标定系统.核技术(5). |
| MLA | 佟亚军,et al."光栅单色器中精密直线位移的测试与标定系统".核技术 .5(2009). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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