单色仪转角重复精度的相位板衍射准直方法测量
文献类型:期刊论文
作者 | 巩志华 ; 陈敏 ; 王勇 ; 严睿 ; 邰仁忠 |
刊名 | 光学学报
![]() |
出版日期 | 2009 |
期号 | 10 |
关键词 | 测量 相位板 衍射准直 平面光栅单色仪 |
通讯作者 | 巩志华 |
中文摘要 | 为准确测量上海光源软X射线谱学显微光束线采用的变包含角平面光栅单色仪的转角重复精度,提出了一种新的基于相位板衍射准直技术的测量方法。该方法将半导体激光单模光纤和相位板衍射准直技术结合起来,利用面阵CCD采集图像,通过测量光斑的位移变化确定平面镜和光栅的角度变化。实验表明,该方法可以测量掠入射情况下单色仪联动时的转角重复精度,测量精度可达±0.1″,此测量精度优于同等实验条件下的商用ELCOMAT3000自准直仪的测量精度。 |
收录类别 | CNKI |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2012-05-23 |
源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8448] ![]() |
专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 巩志华,陈敏,王勇,等. 单色仪转角重复精度的相位板衍射准直方法测量[J]. 光学学报,2009(10). |
APA | 巩志华,陈敏,王勇,严睿,&邰仁忠.(2009).单色仪转角重复精度的相位板衍射准直方法测量.光学学报(10). |
MLA | 巩志华,et al."单色仪转角重复精度的相位板衍射准直方法测量".光学学报 .10(2009). |
入库方式: OAI收割
来源:上海应用物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。